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元器件是電子電路中的獨(dú)立個(gè)體，是用于制造或組裝電子整機(jī)用的基本零件，是組成電子產(chǎn)品的最小單位，也是整體機(jī)械可以進(jìn)行可靠穩(wěn)定運(yùn)行的基礎(chǔ)條件。

PART1第一部分為什么要篩選電子元器件

為保障整體機(jī)械的順利運(yùn)行，真正發(fā)揮出電子元器件在實(shí)際應(yīng)用中的性能和功能及穩(wěn)定性，需要對(duì)電子元器件進(jìn)行合理高效的篩選。

電子元器件廠商生產(chǎn)出相關(guān)元器件后，雖然會(huì)經(jīng)過(guò)一些初步的篩選，但這些元器件通常其質(zhì)量達(dá)不到用戶在實(shí)際應(yīng)用中的標(biāo)準(zhǔn)要求。

因此要在在生產(chǎn)商篩選的基礎(chǔ)上，明確一些相關(guān)的要求，進(jìn)一步對(duì)所需的元器件篩選，驗(yàn)證及補(bǔ)充生產(chǎn)商在電子元器件篩選存在的質(zhì)量問(wèn)題及不足。

此外，電子元器件在生產(chǎn)中也會(huì)受到如原材料、操作、加工工藝、設(shè)備波動(dòng)等影響，從而導(dǎo)致電子元器件無(wú)法達(dá)成用戶的要求。即使是在性能符合要求的情況下，仍可能存在缺陷或隱患因素的元器件產(chǎn)品。

電子元器件不同類型的失效情況，需要進(jìn)行科學(xué)的篩選，通過(guò)一系列的試驗(yàn)后排除有缺陷和失效的元器件，主要的目的是保證元器件的質(zhì)量，提高使用的安全性及可靠性。

PART2第二部分元器件篩選范圍

生產(chǎn)廠商對(duì)于元器件沒有進(jìn)行過(guò)篩選;

生產(chǎn)廠商已經(jīng)篩選，但篩選后元器件仍不符合使用者的要求；

現(xiàn)有的電子元器件篩選的技術(shù)及流程不符合要求；

使用者對(duì)元器件的應(yīng)用的要求嚴(yán)格；

元器件篩選技術(shù)及條件不具備；

用戶對(duì)生產(chǎn)商進(jìn)行篩選的有效性產(chǎn)生質(zhì)疑，需要再進(jìn)行質(zhì)量的檢測(cè)。

PART3第三部分元器件篩選方法

電子元器件需要嚴(yán)格科學(xué)有效的方法進(jìn)行篩選，要選用不同的模式，使其通過(guò)有關(guān)的試驗(yàn)，進(jìn)一步來(lái)提高電子元器件在使用時(shí)的可靠性。

01功率老化法

完整的電子元器件可能看起來(lái)沒有任何問(wèn)題，但在實(shí)際的使用過(guò)程中會(huì)暴露出各種問(wèn)題。

環(huán)境溫度一定的情況下，可模擬電子元件器實(shí)際工作狀態(tài)，給元器件增加一定的電應(yīng)力，通過(guò)電應(yīng)力的綜合作用來(lái)加速元器件內(nèi)部的各物理、化學(xué)反應(yīng)，促使元器件內(nèi)部中掩藏的各種缺陷及早充分顯露出來(lái)，從而達(dá)到剔除早期失效產(chǎn)品的目的。

這個(gè)方法可將生產(chǎn)工藝制造中可能存在一些問(wèn)題進(jìn)行有效剔除，如引線焊接不良、漏電、硅片裂紋等一些缺陷，可以準(zhǔn)確的進(jìn)行篩選，對(duì)于不存在問(wèn)題的正常元器件來(lái)說(shuō)，老化亦可促使元器件的電參數(shù)趨于穩(wěn)定。

02外觀及內(nèi)部質(zhì)量檢查

基礎(chǔ)元器件外觀質(zhì)量檢查主要使用目檢和鏡檢技術(shù)。

目檢是使用顯微鏡和放大鏡檢查元器件外觀是否有明顯的破損，如引線是否折斷、骨架是否有損壞等，檢查型號(hào)是否匹配。對(duì)于電子元器件的可調(diào)元件，檢查是否在調(diào)節(jié)范圍內(nèi)、接觸點(diǎn)良好等，對(duì)出現(xiàn)以上問(wèn)題或存在其它任何問(wèn)題的元器件予以剔除。

而對(duì)于元器件內(nèi)部的檢查主要是使用鏡檢技術(shù)，主要用來(lái)篩選芯片焊接、引線鍵合、封裝缺陷等，該方法既高效且簡(jiǎn)單。?

03環(huán)境應(yīng)力法

電子元器件在進(jìn)行篩選時(shí)可以對(duì)其施加相應(yīng)的環(huán)境應(yīng)力。環(huán)境應(yīng)力篩選使用于研制和生產(chǎn)的各個(gè)階段，從而為發(fā)現(xiàn)和排除不良零件、元器件、工藝缺陷和防止出現(xiàn)早期失效，在環(huán)境應(yīng)力下所做的一系列試驗(yàn)。

這樣的目的是在產(chǎn)品出產(chǎn)前，有意把環(huán)境應(yīng)力施加到產(chǎn)品上，使產(chǎn)品的潛在缺陷加速發(fā)展成為早期故障，并加以排除，是剔除產(chǎn)品缺陷和提高產(chǎn)品使用可靠性的一種有效工藝手段。

一是可以選擇掃頻振動(dòng)、隨機(jī)振動(dòng)、溫度沖擊、恒定高溫、溫度循環(huán)等環(huán)境應(yīng)力方法對(duì)電子元器件進(jìn)行篩選。

二是可以選擇輻照篩選法和低氣壓篩選法對(duì)特別環(huán)境應(yīng)力下的電子元器件進(jìn)行篩選，因?yàn)樵诓煌h(huán)境應(yīng)力下對(duì)電子元器件進(jìn)行篩選的結(jié)果也會(huì)不同。

以上環(huán)境應(yīng)力篩選法要注意對(duì)電子元器件進(jìn)行篩選時(shí)要依據(jù)其結(jié)構(gòu)特點(diǎn)、失效模式、使用要求來(lái)進(jìn)行選擇和制定。

04密封性檢測(cè)法

密封性是指產(chǎn)品封裝結(jié)構(gòu)的密封性，它直接影響到產(chǎn)品的性能，密封性不良會(huì)使得電子元器件開路失效。

當(dāng)多個(gè)電子元器件安裝到線路板上后，可能會(huì)出現(xiàn)密封性失效的情況。采用密封性篩選方法來(lái)進(jìn)行篩選，使密封性不良或者不達(dá)標(biāo)而造成滲透的電子元器件進(jìn)行剔除。

一般情況下，在進(jìn)行篩選時(shí)也可以采用不同的方法進(jìn)行電子元器件粗檢漏和細(xì)檢漏的檢測(cè)，一般情況下應(yīng)用放射性篩選與氣泡篩選等方式。

電子元器件在電子領(lǐng)域中意義非凡，從生產(chǎn)廠商至用戶都應(yīng)對(duì)電子元器件的質(zhì)量進(jìn)行合理控制，確保電子設(shè)備產(chǎn)品的質(zhì)量得到保證。對(duì)其進(jìn)行質(zhì)量控制、科學(xué)篩選，有效控制其性能參數(shù)，充分發(fā)揮出作用，保證應(yīng)用的產(chǎn)品及項(xiàng)目安全可靠。